LEIPS可选三种类型
高精度LUMO能级测量，适用于导带密度评估！
低能反光电子能谱仪LEIPS LE-1系列
首次实现对有机材料无损伤的高精度LUMO能级（电子亲和能）测量！
应用领域更扩展至无机半导体、高分子材料等领域。
根据预算与需求自由组合配置
提供三种配置方案，可根据预算与应用目标灵活选择。
| 名称 | IE-1 完整版 | IE-1 基础版 | IE-1 元素版 | |
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| 形状 |  |
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| 构成 | ３室（計測室、缓冲室、负载锁定室） | 2室（計測室、负载锁定室） | 1室（测量室） | |
| 内容 | 通过4片样品储存缓冲室实现高效测量。配备真空密封载体盒。 | 结构简洁。配备真空密封载体盒。 | 需对接至独立真空系统使用。 | |
结构特点
●测量能量分辨率 0.5eV以下
●搭载实现简易操作（测量＆能量评估）的LEIPS软件
●通过专用电子枪与专用活化工艺实现稳定的低能电子发射。
●测量点磁场零点调节机构。
●便于与各类系统对接的基板托架输送机构
●通过附带的载体盒可实现基板无大气暴露状态下的装卸。
●丰富选配：高精度基板倾斜机构、蒸镀机构等
能量图评估复合系统化 标准适配 能量图谱评估
已实现与光电子能谱仪（XPS,UPS）、PYS（光电子产率谱法）装置等设备的对接应用。
●电离能 Ev
●费米能级 Ef
●带隙 EG
※可联合东京仪器株式会社提供与PYS装置的复合系统解决方案。
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