LEIPS装置介绍
什么是LEIPS？
2012年，京都大学化学研究所的吉田弘幸博士（现任千叶大学教授⇒网站）新开发的低能逆光电子能谱法LEIPS（Low-Energy Inverse Photoemission Spectroscopy），实现了全球首次直接高精度LUMO能级测量。
本公司与京都大学（株式会社关西TLO）就该知识产权签订了“实施许可协议”，并成功实现产品化。
LE-1的特点
通过逆光电子分光法的低能化，实现了高精度LUMO能级（电子亲和力）的测量。
大幅降低样品损伤
●将入射电子动能控制在有机分子损伤阈值5eV以下。
高精度LUMO能级测定
●可测量与器件相同的薄膜样品。
●通过将电子缓冲至与导电相关的能级实现直接测定。
●达到与光电子能谱法（XPS,UPS）同等的精度。
●能量分辨率低于0.5eV。重复性优于0.1eV。
●测得的光谱反映态密度分布。
简易设备操作
●虽采用超高真空规格（10⁻⁸Pa级），但通过触摸屏即可自动完成样品传输、排气及测量等操作。
●通过在缓冲室中预置4片样品基板，可实现高效测量。
简易测量操作
●借助标配的LEIPS软件，可通过简单操作实现自动测量及电子亲和力计算。
便利性与扩展性
●标准支持与光电子能谱法（XPS,UPS）对接，并可增配蒸镀装置。
●标配载样盒，实现样品基板在无大气暴露条件下的转移。
通过将入射电子动能控制在约5eV以下，实现近紫外光检测。
●可规避有机样品损伤
●支持搭载高灵敏度光电子倍增管
●采用等色谱模式，可通过高灵敏度·高能量分辨率的介电多层膜带通滤波器实现光谱分析
●电子枪阴极采用高能量分辨率的BaO材料
LEIPS测量构成图
规格
| 项目 | 传统LEIPS | LEIPS | |
|---|---|---|---|
| 入射电子动能 | 5～15 eV | ≤ 5 eV | |
| 检测光波长 | 紫外光 | 近紫外光 （200～400nm） | |
| 光检测器 | 滤光片 | SrF2,CaF2 等 | 带通滤光片 |
| 检测能量 |
≥ 10eV | ～5eV | |
| 能量分辨率 | 0.4～0.8eV | ～0.2eV | |
| 检测灵敏度 |
低 | 高 | |
| 电子枪 | 阴极材料 |
钨等 | BaO |
| 能量宽度 |
0.6～0.7 | ～0.3eV | |
| 系统分辨率 |
0.7～1.1eV | ≤ 0.5eV | |
| 系统灵敏度 |
低 | 高 | |
| 有机材料损伤 |
严重 | 未观测到 | |
逆光电子分光（Isochromat模式）
LEIPS软件标准配备
LEIPS软件简易操作
●只需输入测量条件并启动，即可自动测定样品电流光谱与LEIPS光谱。
●通过计算界面简单操作，即可计算出真空能级与电子亲和能。
用户友好性
●在计算界面调出光标，可将任意位置的能量值直接转换为入射电子能量或真空能级进行直读。
●测量数据自动以CSV格式保存，用户可自行分析利用。
京都大学化学研究所的吉田弘幸博士（现任千叶大学教授 网站⇒网站）
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