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高精度LUMO準位測定,伝導帯DOS評価に！
低エネルギー逆光電子分光装置 LEIPS LE-１シリーズ |
有機材料の損傷ない高精度LUMO準位(電子親和力)測定を初めて実現！
更に無機半導体、高分子材料などへ活躍の場を拡げています。
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■ご予算・目的により選べる構成
| LE-1 Complete |
LE-1 Basic |
LE-1 Element |
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| ３室（計測室、ﾊﾞｯﾌｧｰ室、ﾛｰﾄﾞﾛｯｸ室） |
2室（計測室、ロードロック室） |
1室（計測室） |
| 試料4枚ストックバッファー室による効率的な計測。真空封止キャリアBOX装備。 |
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| 個別の真空システムにドッキングしてご使用いただきます。 |
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■特長
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計測エネルギー分解能 0.5eV以下 |
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簡単操作（計測＆エネルギー評価）を実現するLEIPSソフト搭載 |
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専用電子銃と専用活性化工程により安定した低エネルギー電子放出を実現。 |
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測定点磁場ゼロ調機構。 |
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各種システムとのドッキングを容易にする基板ホルダー搬送機構 |
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付属キャリアBOXにより大気暴露なしで基板着脱可能。 |
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多彩なオプション：高精度基板傾斜機構、蒸着機構etc |
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■複合システム化 標準対応 エネルギーダイヤグラム評価
光電子分光装置(XPS,UPS)、PYS(光電子収量分光法)装置等とドッキング実績有ります。
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イオン化エネルギー |
Ev |
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ェルミ準位 |
Ef |
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バンドギャップ |
EG |
※株式会社東京インスツルメンツ様との協業によるPYS装置との複合装置提案可能です。 |
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■電話でのお問い合わせ
営業時間：9:00～18:00
■メールでのお問い合わせ
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営業カレンダー 
